大庆蔡司大庆工业CTZEISS METROTOM 
X 射线计算机断层扫描 (CT) 作为一种灵活的非接触式测量技术，已成功进入坐标计量领域，用于对工业零件进行尺寸测量。

与传统的接触式和光学坐标测量机相比，大庆蔡司大庆工业CT 具有多种优势，可以让工程师执行任何其他测量技术通常无法完成的无损测量任务。例如，以高信息密度检测复杂、高价值的增材制造产品，且无需切割或破坏组件。

在航空航天领域
蔡司工业CT 可用于检查中小型部件，例如涡轮叶片、铝铸件和管焊缝。通过 CT，可以在不同产品周期的多个阶段进行定量分析，从而优化产品和制造工艺以及评估产品规格的符合性。

蔡司工业CT应用领域
蔡 司 C T 工 作 原 理

X 射线 蔡司工业CT 系统的三个主要组件是 X 射线源、转台和探测器。存在不同的 CT 系统配置：例如，可以使用平板探测器 (DDA) 或线性二极管阵列探测器 (LDA)。

X 射线源到探测器的距离和 X 射线源到物体的距离定义了 CT 扫描的几何放大倍数和零件 3D CT 模型的体素大小。NSI 系统产品组合中提供的可变 X 射线源到探测器距离的使用也是航空航天应用获得更佳信号的基础。

CT技术基于X射线的衰减原理。因此，零件的尺寸和厚度以及材料密度对其有效使用起着重要作用。部件越大、材料越致密，X 射线穿透所需的功率就越大。

CT 扫描的输出是零件的 3D 模型，根据该模型可以执行非常的测量，而无需任何形式的接触或需要切割或破坏零件。CT 还可以对材料进行检查并识别内部缺陷，例如空隙、裂纹等。在检查复合材料时，CT 还可用于识别分层。


蔡 司 C T  使 用 示 例

在这种情况下，颜色条代表不同的孔径，这在 3D CT 模型上也可见。

CT 能够定位零件 3D 模型中的孔隙并提供有关不同孔隙体积的信息。可检测到的孔隙或缺陷的大小取决于扫描分辨率，这也是零件尺寸、几何形状和材料的函数。
NSI Subpix 等先进扫描技术使工程师能够提高分辨率，从而在给定分辨率下获得更大的视野。

CT 应用包括标称/实际比较，其中记录实际零件的体积模型并与其标称模型（通常是 CAD 模型）进行比较，以及复合材料的纤维分析。

蔡司工业CT优点及注意事项
Advantages and precautions

与传统的测量技术相比，蔡司工业CT 具有一系列广泛的优势，包括能够以非接触式、非破坏性的方式对复杂和/或不可访问的特征进行元件测量，并具有高信息密度。

在航空航天应用中，这是至关重要的，因为零件成本通常很高，并且不允许进行破坏性测试。CT 还可以让工程师在进行高成本加工过程之前快速评估零件的一致性。

例如，当测量涡轮叶片的自由曲面时，CT 可以在比传统接触式 CMM 更短的时间内提供高密度的点，并且作为一种非接触式技术，在检查自由曲面时不需要探头补偿。

使用 CT 时要考虑的基本因素包括可实现的几何放大倍率，这取决于零件尺寸和几何形状、零件材料和厚度。


蔡司工业CT 无损检测系统Zeiss Industrial CT
工业计算机断层扫描（CT）为您提供了全新的洞见，无论是中型还是小型零件，是塑料还是轻金属材质，使用蔡司工业CT-ZEISS METROTOM 1，可以轻松检测出工件的隐藏缺陷。

蔡司是CT技术领域的专家，十多年以来，其METROTOM系列一直在提供可靠的CT系统，快速采集所有内部结构的体积，并且能够在生产周期中对组件进行完整的以体积为基础的检查。

蔡司计算机断层扫描系统METROTOM 1现在为行业提供了可靠的X射线技术和无损质量保证。